Ｘ熒光光譜儀 高靈敏度信號電子電路檢測儀 貴金屬測試儀
型號：JC15- EDX860D
儀器介紹
本儀器專門針對貴金屬測試，可測試環形樣品內壁及普通平面測試，具有以下特點：體積小巧，外型莊重大方，
手動升降平臺滿足不同大小樣品的測試，樣品固定方便快捷，可方便更換準直器，準直器直徑為1.5mm，可測試
較小區域，下照式，大窗口正比計數盒保證計數率滿足分析需要，寬闊樣品腔可滿足較大樣品的測試，攝像頭
激光精確定位實現可視化定位，良好的射線屏蔽確保操作人員。
性能特點
1.大功率光管；
2. 超大窗口面積正比計數盒；
3. 外型小巧，莊重大方；
4. 寬闊樣品腔，方便操作及測試較大樣品；
5. 手動升降平臺確保測試不同大小環狀樣品；
7．小準直器，利于測試樣品小區域；
8. 攝像頭與激光定位，可視地準確定位到被測點，測試時激光點自動關閉，利于拍攝清晰照片；
9. 良好的射線屏蔽確保操作人員的安全。
技術指標
分析含量一般為1ppm到99.9％；
任意多個可選擇的分析和識別模型；
相互獨立的基體效應校正模型；
多變量非線性回歸程序；
多次測量重復性可達0.1％；
長期工作穩定性為0.1％。
電源：交流220V±5V；
測量時間：60-200S
管壓：5-50KV
管流：50-1000μA
溫度適應范圍：15℃-30℃
標準配置
正比計數盒；
50W X光管；
高壓電源 50kV@1mA；
攝像頭激光定位裝置；
高靈敏度信號檢測電子電路；
手動升降平臺；
樣品夾；
橡皮泥；
準直器直徑為1.5 mm。
應用領域
首飾加工廠
金銀珠寶首飾店
貴金屬冶煉廠
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